冷熱沖擊試驗箱操作簡單，但電子元件有時會發(fā)生一些故障，故障遷移現(xiàn)象一般分為三類：離子遷移、電遷移和應力遷移。
塑封冷熱沖擊試驗箱功能：
1、可在預啟動時控制在自動提前預熱，預冷待機,并可以選擇起始位置，從高溫或低溫開始循環(huán)或沖擊，其他已設定的循環(huán)次數(shù)和自動除霜等功能
2，具有全自動，高精度系統(tǒng)回路，任何機械動作，完全由P.L.C鎖定處理，溫度控制精度高，所有P.I.D自動演算控制。
3、出風口與回風口感知器檢知控制，風門開關時間為10秒，熱沖擊溫度恢復時間在5分鐘內完成。
冷熱沖擊試驗箱塑性破壞準則的影響：
1、集成電路芯片和大量的電子元件的組件集成在硅晶片上。由于鋁和鋁合金的價格低廉，加工工藝簡單，所以通常作為集成電路的金屬線。
2、從進行集成電路塑封工序開始，水氣便會通過環(huán)氧樹脂滲入引起鋁金屬導線產(chǎn)生腐蝕進而產(chǎn)生開路現(xiàn)象，成為品質工程最為頭痛的問題。人們雖然通過各種改善包括采用不同環(huán)氧樹脂材料、改進塑封技術和提高非活性塑封膜為提高產(chǎn)品質量進行了各種努力，但是隨著日新月異的半導體電子器件小型化發(fā)展，塑封鋁金屬導線腐蝕問題至今仍然是電子行業(yè)非常重要的技術課題。更多詳情咨詢:18925571822  QQ:2099556812   葉梓晴