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半導(dǎo)體材料高低溫試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體材料低溫測試箱
- 半導(dǎo)體材料高低溫試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體材料低溫測試箱是一款用于半導(dǎo)體材料做高溫、低溫、高低溫交變的可靠性試驗(yàn)設(shè)備。經(jīng)過測試從而知道因溫度引起的物理效應(yīng)和現(xiàn)象。半導(dǎo)體材料(semiconductor material)是一類具有半導(dǎo)體性能(導(dǎo)電能力介于導(dǎo)體與絕緣體之間,電阻率約在1mΩ·cm~1GΩ·cm范圍內(nèi))、可用來制作半導(dǎo)體器件和集成電路的電子材料。
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半導(dǎo)體材料高低溫試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體材料低溫測試箱
設(shè)備介紹:
半導(dǎo)體材料高低溫試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體材料低溫測試箱是一款用于半導(dǎo)體材料做高溫、低溫、高低溫交變的可靠性試驗(yàn)設(shè)備。經(jīng)過測試從而知道因溫度引起的物理效應(yīng)和現(xiàn)象。半導(dǎo)體材料(semiconductor material)是一類具有半導(dǎo)體性能(導(dǎo)電能力介于導(dǎo)體與絕緣體之間,電阻率約在1mΩ·cm~1GΩ·cm范圍內(nèi))、可用來制作半導(dǎo)體器件和集成電路的電子材料。
符合標(biāo)準(zhǔn)
半導(dǎo)體材料高低溫試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體材料低溫測試箱具有較寬的溫度調(diào)節(jié)控制范圍,可滿足國家標(biāo)準(zhǔn)本產(chǎn)品滿足GB 2423.1--2001、GB 2423.2—2001、GB2423.3-2001、GB2423.4-2001等國家標(biāo)準(zhǔn)《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》A:低溫試驗(yàn)方法,試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法,試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法,試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法》要求。GB 10592—89、GB/T5170.2-96國家標(biāo)準(zhǔn)制造件,并可按軍標(biāo)試驗(yàn)要求GJB150.3-86,GJB150.4-86,及非標(biāo)準(zhǔn)制作各種半導(dǎo)體材料高低溫試驗(yàn)設(shè)備。并等效滿足GJB150.9-86等相應(yīng)的國標(biāo)、軍標(biāo);也可按客戶的要求制造非標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品。
半導(dǎo)體材料高低溫試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體材料低溫測試箱規(guī)格可選其一(單位:mm)
型號(hào) AP-GD-100 內(nèi)型尺寸 400×500×500 外型尺寸950×880×1470
型號(hào) AP-GD-150 內(nèi)型尺寸 500×500×600 外型尺寸985×932×1562
型號(hào) AP-GD-250 內(nèi)型尺寸 520×630×780 外型尺寸1060×997×1740
型號(hào) AP-GD-500 內(nèi)型尺寸 700×800×900 外型尺寸1182×1250×1880
型號(hào) AP-GD-800 內(nèi)型尺寸 800×1000×1000 外形尺寸 1360×1500×1950
型號(hào)AP-GD-1000 內(nèi)型尺寸1000×1000×1000 外型尺寸1485×1520×2020
溫度范圍可選其一:0℃~150℃;-20℃~150℃;-40℃~150℃;-60℃~150℃;-70℃~150℃
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我司主打設(shè)備:高低溫試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、紫外老化試驗(yàn)箱、氙燈老化試驗(yàn)箱、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱、砂塵試驗(yàn)箱、淋雨試驗(yàn)箱、拉力試驗(yàn)機(jī)、鹽水噴霧試驗(yàn)箱、按鍵壽命老化試驗(yàn)機(jī)、高溫試驗(yàn)箱、電磁振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)、模擬運(yùn)輸振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)、跌落試驗(yàn)機(jī)等可靠性環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。
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