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半導(dǎo)體電子器件冷熱沖擊試驗(yàn)箱

  • 半導(dǎo)體電子器件冷熱沖擊試驗(yàn)箱特別適用于半導(dǎo)體電子器件做溫度破壞測試,主要測試半導(dǎo)體電子器件材料結(jié)構(gòu)在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)沖擊環(huán)境下所能忍受的程度,得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。本試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)需求及測試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。
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    半導(dǎo)體電子器件冷熱沖擊試驗(yàn)箱


    半導(dǎo)體電子器件冷熱沖擊試驗(yàn)箱介紹:


    半導(dǎo)體電子器件冷熱沖擊試驗(yàn)箱特別適用于半導(dǎo)體電子器件做溫度破壞測試,主要測試半導(dǎo)體電子器件材料結(jié)構(gòu)在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)沖擊環(huán)境下所能忍受的程度,得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。本試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)需求及測試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室,蓄熱室和試驗(yàn)室,產(chǎn)品在測試時(shí)是放置在試驗(yàn)室。兩箱式分為高溫室和低溫室,是通過電機(jī)帶動提籃運(yùn)動來實(shí)現(xiàn)高低溫的切換,產(chǎn)品放在提籃里,是隨提籃一起移動的。

    愛佩半導(dǎo)體電子器件冷熱沖擊試驗(yàn)箱質(zhì)量優(yōu)勢:主要核心配件均采用國際大品牌的配件如法國泰康或德國比澤爾壓縮機(jī),控制器有韓國三元、日本OYO、臺灣臺通三大品牌供客戶選擇,繼電器有日本路宮、和泉、三菱、施耐德,美國杜邦環(huán)保冷媒,丹麥(DANFOSS)、瑞典(AlfaLaval)等配件,假一罰十,能確保冷熱沖擊試驗(yàn)箱長期正常高效的運(yùn)行。

    半導(dǎo)體器件(semiconductor device)通常,這些半導(dǎo)體材料是硅、鍺或砷化鎵,可用作整流器、振蕩器、發(fā)光器、放大器、測光器等器材。為了與集成電路相區(qū)別,有時(shí)也稱為分立器件。絕大部分二端器件(即晶體二極管)的基本結(jié)構(gòu)是一個PN結(jié)。利用不同的半導(dǎo)體材料、采用不同的工藝和幾何結(jié)構(gòu),已研制出種類繁多、功能用途各異的多種晶體二極,可用來產(chǎn)生、控制、接收、變換、放大信 號和進(jìn)行能量轉(zhuǎn)換。晶體二極管的頻率覆蓋范圍可從低頻、高頻、微波、毫米波、紅外直至光波。三端器件一 般是有源器件,典型代表是各種晶體管(又稱晶體三極管)。


    半導(dǎo)體電子器件冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):


     

    冷熱沖擊試驗(yàn)箱型號

     


    AP-CJ-80A

    AP-CJ-80B

    AP-CJ-80C

    AP-CJ-150A

    AP-CJ-150B

    AP-CJ-150C

    AP-CJ-250A

    AP-CJ-250B

    AP-CJ-250C

    AP-CJ-1000A

    AP-CJ-1000B

    AP-CJ-1000C

    標(biāo)稱內(nèi)容積(升)

    80

    150

    250

    300

    試驗(yàn)方式

    氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式

    性能

    高溫室

    預(yù)熱溫度范圍

    +60~+200℃

    升溫速率※1

    +60→+200℃≤30分鐘

    低溫室

    預(yù)冷溫度范圍

    -75-0℃

    降溫速率※1

    +20→-75℃≤30分鐘

    試驗(yàn)室

    溫度偏差

    ±2℃

    溫度范圍

    TSL:(+60→+150)℃→(-40--10)℃;

    TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃;

    TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃

    溫度恢復(fù)時(shí)間※2

    5分鐘以內(nèi)

    試樣擱架承載能力

    30kg

    試樣重量

    7.5kg

    7.5kg

    10kg

    10kg

    內(nèi)部尺寸(mm)

    W

    500

    600

    700

    1000

    H

    400

    500

    600

    1000

    D

    400

    500

    600

    1000

    ※1半導(dǎo)體電子器件冷熱沖擊試驗(yàn)箱溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗(yàn)箱單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能。

    如需了解更多請聯(lián)系東莞市愛佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司廠家直營電話:0769-88086616或致電業(yè)務(wù)經(jīng)理18128586280.


     

     

     

    半導(dǎo)體電子器件冷熱沖擊試驗(yàn)箱

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