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標(biāo)準(zhǔn)恒溫恒濕試驗(yàn)箱

設(shè)備介紹：

標(biāo)準(zhǔn)恒溫恒濕試驗(yàn)箱主要用于測試工業(yè)產(chǎn)品在恒濕、恒高溫，恒低溫的不同氣候環(huán)境下的使用，運(yùn)輸和儲存時(shí)的性能試驗(yàn)、實(shí)驗(yàn)，主要用于對電工，電器、電子、光電產(chǎn)品，包括所有工業(yè)品的元器件，零部件，金屬材料及其在模擬濕熱、高溫，低溫的不同氣候條件下，對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行試驗(yàn)，試驗(yàn)測試后，通過檢定后的成果來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求或者標(biāo)準(zhǔn)，以便提供產(chǎn)品的改良，設(shè)計(jì)，生產(chǎn)，檢定及出廠檢驗(yàn)使用。
標(biāo)準(zhǔn)恒溫恒濕試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

? 型號:AP-HX-80/AP-HX-150/AP-HX-225/AP-HX-408/AP-HX-800/AP-HX-1000

? 內(nèi)箱尺寸（W×H×D）cm:80L:40×50×40； 150L:50×60×50； 225L:50×75×60；408L:60×85×80；800L:100×100×80；1000L:100×100×100；備注更多非標(biāo)尺寸可來電愛佩龍小姐13316686114非標(biāo)定制。

? 外形尺寸約（W×H×D）cm:80L:93×131×81,150L:103×141×91, 225L:108×162×112,408L:117×172×132, 800L:160×187×132, 1000L:150×195×165；備注：非標(biāo)設(shè)備的外形尺寸請以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)。

? 容積（L） :80L,150L,225L,408L,:800L，1000型可選擇。

? 溫度笵圍:0℃、-20℃、-40℃、-70℃～150℃

? 濕度笵圍 :20%～98%RH(可根據(jù)客戶要求定做：低濕型可達(dá)到5%RH或更高)

? 升溫速度 :RT～150℃約30min

? 降溫速度:RT～0℃約20min；RT～-20℃約40min；RT～-40℃約60min；RT～-70℃約100min

? 溫度分布均度 :±2℃

? 溫度穩(wěn)定度:±0.5℃

? 濕度分布均度:±3%

? 濕度穩(wěn)定度 :±2%RH

? 程控 :120組1200段編程，999次循環(huán)設(shè)定，并附多組PID控制功能，附RS-232計(jì)算機(jī)接口控制（還可以定制為USB接口）。

愛佩品牌標(biāo)準(zhǔn)恒溫恒濕試驗(yàn)箱滿足GB/T 2423.34-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ZAD:溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)；GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備；GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備；GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；GB/T 2423.3-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法；GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)N 溫度變化試驗(yàn)方法；GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db: 交變濕熱(12h+12h循環(huán))；GB/T 10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；GB/T10592-2008《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；GB/T 10586-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；MIL-STD810D方法502.2 美國軍用標(biāo)準(zhǔn)；GJB 150.9-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)；IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程.第2部分:第1節(jié).試驗(yàn).試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)等標(biāo)準(zhǔn)。