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芯片恒溫恒濕測試箱

扣式電池測試恒溫箱的功能用途則是測試LED產(chǎn)品在各種惡劣環(huán)境下的可靠性及穩(wěn)定性能的提前評估。將提供給廣大顧客預(yù)測或改進(jìn)LED產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性的依據(jù)。

性能指標(biāo)：

測試環(huán)境條件：機(jī)器周圍環(huán)境溫度維持在+25~+30℃之間，相對濕度：≤85%；氣壓：86kPa～106kPa正常大氣壓力。

溫度范圍：-40℃～+150 ℃ (風(fēng)冷式)

降溫速率：RT～-40℃/65min(空載)約1℃/min

升溫速率：RT～+150℃/40min(空載)約3℃/min

溫度穩(wěn)定度：±0.5℃

溫度解析精度：0.01℃

溫度均勻度：±2.0℃

內(nèi)外箱材質(zhì)：測試區(qū)內(nèi)箱不銹鋼板 ( SUS # 304 )，外箱烤漆。

測試孔：可外接測試電源線及信號用 ( 直徑50 mm )

保溫層：硬質(zhì)聚氨酯泡沫

制冷壓縮機(jī)：法國泰康全封閉低噪音轉(zhuǎn)子式壓縮機(jī)。

制 冷 劑：R404a/R23（臭氧耗損指數(shù)均為0，R23為復(fù)疊式制冷系統(tǒng)采用）。

扣式電池測試恒溫箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：

·GB/T10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

·GB/T10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

·GB/T2423.1-2008低溫試驗(yàn)Aa , Ab

·GB/TT2423.2-2008試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法.

·MIL-STD810D方法502.2

·GB/T2423.4-2008（MIL-STD810）方法507.2程式3等